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国家自然科学基金(19774003)

作品数:2 被引量:0H指数:0
相关作者:陈开茅武兰青张伯蕊乔永平孙允希更多>>
相关机构:北京大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学电气工程电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学
  • 1篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 1篇整流特性
  • 1篇深能级
  • 1篇能级
  • 1篇界面态
  • 1篇乘积
  • 1篇GAAS

机构

  • 2篇北京大学

作者

  • 2篇孙允希
  • 2篇乔永平
  • 2篇张伯蕊
  • 2篇武兰青
  • 2篇陈开茅
  • 1篇朱美栋
  • 1篇傅济时
  • 1篇吴恩
  • 1篇孙文红
  • 1篇陈源

传媒

  • 1篇数据采集与处...
  • 1篇功能材料与器...

年份

  • 1篇2001
  • 1篇2000
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
固体C_(70)/GaAs接触的界面态及整流特性
2000年
在高真空系统中 ,将C70 膜淀积在 (1 0 0 )晶向n型和p型GaAs衬底上 ,形成固体C70 n GaAs和C70 p GaAs两种接触。电学测量表明两种接触均是强整流结 ,在偏压为± 1V时 ,它们的整流比分别大于 1 0 6和 1 0 4 ,以及在固定正向偏压下 ,它们的电流都是温度倒数的指数函数 ,从中确定了它们的有效势垒高度分别为 0 .784eV和0 .5 31eV。深能级瞬态谱 (DLTS)和C -t测量发现在C70 GaAs界面上存在一个电子陷阱E(0 .6 40eV)和一个空穴陷阱H3(0 .82 2eV) ,以及在近界面的固体C70 中存在两个空穴陷阱H4 (1 .1 5 5eV)和H5(0 .85 6eV)。
陈开茅孙文红武兰青张伯蕊吴恩孙允希乔永平
关键词:GAAS界面态
恒温电容瞬态时间乘积谱
2001年
传统的深能级电容瞬态谱(DLTS)是典型的微弱信号技术,它具有极高的灵敏度,能测量比基体原子浓度小9~10个数量级的深能级杂质和缺陷.然而对于宽禁带半导体(如固体C60(C70),GaN等)深能级的测量,这种测量方法将面临高温测量的困难.本文提出的电容瞬态时间乘积谱(ICTTS),可以在室温附近测量很深的深能级,并达到和传统DLTS相近的灵敏度.文中用这一方法研究了Ti/C70固体/p-GaAs结构的深能级,结果发现C70固体膜中存在两个空穴陷阱,H1和H2,它们的能级分别为Ev+1.037eV和Ev+0.856eV,密度分别为8.6×1011/cm2和6.5×1010/cm2.
陈开茅陈源傅济时张伯蕊朱美栋乔永平孙允希武兰青
关键词:深能级
共1页<1>
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