中国工程物理研究院双百人才基金(2009R0103)
- 作品数：2 被引量：4H指数：1
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- 相关机构：中国工程物理研究院清华大学重庆大学更多>>
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- 相关领域：理学机械工程更多>>
- Z箍缩诊断中椭圆晶体谱仪测量数据的处理被引量：1
- 2010年
- 以氖气喷气Z箍缩的实验结果为例,详细讨论了椭圆晶体谱仪测量数据的处理方法,包括使用标定结果将胶片黑密度转换为X光强度,根据已知谱线的能量和扫描点序号对测量能谱的能点进行定标,以及使用Henke给出的考虑谱仪非均匀色散效应、晶体积分反射率和X光滤片透过率后的公式对测量能谱的强度进行修正,给出了最终的解谱结果。并使用Lorentz线型函数拟合谱线轮廓,求出了Hα,Heα和Heβ等K壳层谱线的相对强度,对处理后能谱强度的误差进行了简单分析。
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- 关键词：数据处理
- “碰撞-辐射”模型在Z箍缩等离子体K壳层线辐射谱分析中的应用被引量：4
- 2010年
- 介绍了由K壳层谱线强度比估算等离子体状态参数的"碰撞-辐射"模型的基本原理.详细描述了自行研制的基于该模型的Z箍缩等离子体K壳层线辐射谱分析程序——ZSPEC的基本情况.给出了氖等离子体的计算结果,包括不同电离态离子的相对含量随电子温度的变化曲线和K壳层谱线强度比在"电子密度-电子温度"平面内的等高线分布图.该程序已在"阳"加速器Z箍缩实验结果分析中得到应用,将椭圆晶体谱仪测得的氖等离子体K壳层谱线强度比与ZSPEC程序计算结果相比较,得出在该发实验540kA峰值电流的驱动下,产生K壳层辐射的等离子体的时空平均的电子温度和电子密度约为240eV和1.0×1019cm-3.
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