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北京市教委科技发展计划(KM200510028004)

作品数:1 被引量:0H指数:0
相关作者:周丽萍姜宏伟郑鹉王艾玲季红更多>>
相关机构:首都师范大学更多>>
发文基金:北京市教委科技发展计划北京市科委科技计划项目更多>>
相关领域:理学一般工业技术更多>>

文献类型

  • 2篇会议论文
  • 1篇期刊文章

领域

  • 3篇一般工业技术
  • 1篇电气工程
  • 1篇理学

主题

  • 2篇交换偏置
  • 1篇织构
  • 1篇铁磁
  • 1篇铁磁层
  • 1篇晶粒
  • 1篇晶粒尺寸
  • 1篇巨磁电阻
  • 1篇缓冲层
  • 1篇交换耦合
  • 1篇NI
  • 1篇CR
  • 1篇MN
  • 1篇尺寸
  • 1篇磁电
  • 1篇磁电阻
  • 1篇磁性
  • 1篇磁性薄膜

机构

  • 3篇首都师范大学

作者

  • 3篇姜宏伟
  • 1篇季红
  • 1篇梁珂
  • 1篇王艾玲
  • 1篇郑鹉
  • 1篇陈红燕
  • 1篇周丽萍
  • 1篇李岩
  • 1篇陈庆永

传媒

  • 1篇北京科技大学...

年份

  • 1篇2008
  • 2篇2006
1 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
界面插入Cr层对NiFe/PtMn交换偏置的影响
用磁控溅射法制备了NiFe/PtMn双层膜, 研究了在界面加入少量的Cr对交换偏置场的影响。结果发现:在Pt成分较高时,界面加Cr对反铁磁层为临界厚度时的交换偏置场影响最大,增大了1.5倍,达到了最大值。XRD结果表明加...
梁珂姜宏伟
关键词:交换偏置巨磁电阻
文献传递
缓冲层对NiCo薄膜各向异性磁致电阻的影响
2008年
用磁控溅射法制备了以NiFeCr和Ta分别为缓冲层的两种NiCo薄膜样品,在不同温度下对两种样品退火.结果表明:在NiCo厚度相同的情况下,以NiFeCr作为缓冲层的样品的各向异性磁致电阻(AMR)值明显高于Ta作为缓冲层的样品.X射线衍射(XRD)的结果表明,NiFeCr/NiCo薄膜的晶粒平均尺寸大于Ta/NiCo薄膜,且两种样品的磁膜/缓冲层界面存在较大差异,这可能是造成两者AMR差异的原因.此外,对样品进行温度适当的热处理可以明显改善薄膜的物理性质.
姜宏伟季红周丽萍王艾玲郑鹉
关键词:磁性薄膜缓冲层织构晶粒尺寸
界面插Mn对CoFe/CrPt双层膜交换耦合的影响
用共溅射的方法制备CoFe/CrPt(x)、 CoFe/Mn/CrPt(x)薄膜。通过改变反铁磁层的厚度,研究影响交换偏置的因素。结果表明:界面结构、反铁磁层厚度都对交换偏置产生重要作用。在CoFe/CrPt双层膜中,反...
陈红燕陈庆永李岩姜宏伟
关键词:交换偏置
文献传递
共1页<1>
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