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广西高校优秀人才计划项目(RC2007024)

作品数:5 被引量:12H指数:2
相关作者:谢清连黄国华阎少林赵新杰方兰更多>>
相关机构:广西师范学院南开大学中国电子科技集团公司更多>>
发文基金:广西高校优秀人才计划项目国家重点基础研究发展计划国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:理学文化科学更多>>

文献类型

  • 5篇中文期刊文章

领域

  • 4篇理学
  • 1篇文化科学

主题

  • 2篇蓝宝
  • 2篇蓝宝石
  • 2篇缓冲层
  • 2篇CEO
  • 1篇电子技术
  • 1篇电子技术课
  • 1篇电子技术课程
  • 1篇原位
  • 1篇物理学
  • 1篇物理学专业
  • 1篇理学
  • 1篇晶胞
  • 1篇晶胞参数
  • 1篇课程
  • 1篇技术课
  • 1篇技术课程
  • 1篇教学
  • 1篇教学模式
  • 1篇教学模式研究
  • 1篇XRD

机构

  • 5篇广西师范学院
  • 3篇南开大学
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 5篇黄国华
  • 5篇谢清连
  • 3篇方兰
  • 3篇赵新杰
  • 3篇阎少林
  • 2篇张玉婷
  • 2篇游峰
  • 2篇季鲁
  • 2篇潘吟松
  • 1篇左涛
  • 1篇李建映
  • 1篇王争
  • 1篇王向红
  • 1篇黄自谦
  • 1篇何明
  • 1篇方凤才

传媒

  • 2篇人工晶体学报
  • 2篇广西物理
  • 1篇物理学报

年份

  • 1篇2011
  • 2篇2010
  • 2篇2009
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
CeO_2缓冲层热处理对Tl-2212薄膜超导特性的影响被引量:8
2009年
本文采用原子力显微镜(AFM)和XRD研究了生长在蓝宝石(11-02)基片上的CeO2缓冲层在不同的退火温度和退火时间下表面形貌和相结构的变化,以及对Tl-2212薄膜超导特性的影响。AFM和XRD研究表明,CeO2薄膜在流动氧环境中退火,表面形貌发生显著的变化;CeO2薄膜在最佳条件下退火后,可获得原子级光滑表面,结晶质量明显提高。实验结果表明,缓冲层的结晶质量和表面粗糙度与Tl-2212薄膜的超导特性密切相关。在经过最佳条件退火后的CeO2缓冲层上制备了厚度为500nm无裂纹的Tl-2212超导薄膜,其临界转变温度(Tc)达到107K,液氮温度下临界电流密度(Jc)为3.9MA/cm2(77K,0T),微波表面电阻(Rs)约为281μΩ(77K,10GHz)。
谢清连游峰黄国华李建映左涛何明季鲁张玉婷赵新杰方兰阎少林
关键词:缓冲层AFM
基于物理学专业的电子技术课程教学模式研究
2011年
分析了目前物理学专业电子技术课程教学所面临的困难,提出了电子技术课程教学新模式。教学实践表明,教学新模式的应用,能激发学生自主学习的兴趣,促进学生掌握相关学科的基本知识、基本理论和基本技能,提高学生的团队合作能力、综合开发能力和创新能力。
谢清连黄国华潘吟松方凤才
关键词:物理学专业电子技术教学模式
热处理蓝宝石基片对Tl-2212超导薄膜的影响被引量:1
2010年
本文研究了蓝宝石基片的热处理对Tl-2212薄膜的结晶质量、表面形貌及其超导特性的影响。SEM和XRD研究表明,在经过最佳条件(1000℃×20 h)退火后的基片上,可以制作出具有致密的晶体结构、高度c轴取向的外延Tl-2212超导薄膜,其薄膜具有优良的电学性能。
谢清连阎少林黄国华张玉婷赵新杰方兰
关键词:蓝宝石
在蓝宝石上生长CeO_2缓冲层的原位双温工艺法及Tl-2212薄膜的技术改进被引量:4
2009年
报道了在蓝宝石衬底上制备CeO2缓冲层的原位双温工艺法及其对Tl2Ba2CaCu2O8(Tl-2212)薄膜超导特性的影响.XPS和AFM测试结果表明,采用原位双温工艺法制备缓冲层,具有工艺简单,薄膜表面光滑,衬底材料原子扩散量少等特点.在先驱膜的高温后退火过程中,40nm厚的CeO2薄膜就能有效地阻挡衬底材料对超导薄膜底层的扩散.随后制备厚度为530nm的Tl-2212超导薄膜具有优越的电学性能,其临界温度达到108.2K,临界电流密度达到6.58MA/cm2(77K,0T),微波表面电阻只有185μΩ(77K,10GHz),超导薄膜的主要特性参数得到显著提高.
谢清连王争黄国华王向红游峰季鲁赵新杰方兰阎少林
关键词:蓝宝石
XRD在薄膜结构分析中常见问题的研究被引量:2
2010年
研究了X射线衍射(XRD)在薄膜结构分析中常见问题的解决方法,提出了取向生长薄膜的面内晶胞参数的测试及计算方法。实验表明,X射线束的扫描方向对反映的晶体结构信息产生影响。理论推导表明,在计算中选择合适强度和合适峰位的衍射峰,才能得到准确的晶胞参数。
谢清连黄国华潘吟松黄自谦
关键词:XRD晶胞参数
共1页<1>
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