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国防科技技术预先研究基金(41308020102)

作品数：2 被引量：1H指数：1
相关作者：陈中建鲁文高张雅聪吉利久唐矩更多>>
相关机构：北京大学更多>>
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相关领域：电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇电路
  • 2篇读出电路
  • 2篇TDI
  • 1篇英文
  • 1篇时间延迟积分
  • 1篇焦平面
  • 1篇红外
  • 1篇红外焦平面
  • 1篇CMOS读出...

机构

  • 2篇北京大学

作者

  • 2篇吉利久
  • 2篇张雅聪
  • 2篇鲁文高
  • 2篇陈中建
  • 1篇唐矩

传媒

  • 1篇北京大学学报...
  • 1篇红外与毫米波...

年份

  • 2篇2008
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
用于288×4读出电路中的高效率模拟电荷延迟线(英文)
2008年
提出了一种带时间延迟积分功能的高性能CMOS读出电路芯片适用的高效率电荷延迟线结构。基于该结构,设计了一款288×4规格焦平面阵列组件适用的CMOS读出电路芯片,并已完成流片、测试。该芯片包括4个视频输出端,每个端口的像元输出频率为4-5MHz（如用于实现384×288规模的成像,帧频可达160Hz）。测试结果表明这款芯片具有高动态范围（大于78dB）、高线性度（大于99.5%）、高均匀性（大于96.8%）等特征。
鲁文高陈中建张雅聪吉利久
关键词：TDI读出电路
红外焦平面CMOS读出电路TDI功能的测试方法研究被引量：1
2008年
给出了一种新颖的红外焦平面CMOS读出电路TDI功能的测试方法.该方法通过在电测试MOS场效应晶体管栅极施加不同波形的方波激励信号,观察输出电压波形的对应变化,验证TDI功能的信号延迟和累加操作是否正确.应用该方法实际测试了一款TDI型红外焦平面CMOS读出电路,各种激励模式下测试得到的输出波形均与预计的理想输出波形吻合,证明该测试方法可行,且简单、直观、有普适性.
陈中建鲁文高唐矩张雅聪吉利久
关键词：时间延迟积分读出电路红外焦平面
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