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中国地质调查局地质调查项目(1212010816023)

作品数：1 被引量：12H指数：1
相关作者：杨丽峰安树清李国会李小莉更多>>
相关机构：中国地质科学院天津地质矿产研究所更多>>
发文基金：中国地质调查局地质调查项目更多>>
相关领域：理学更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇荧光
  • 1篇荧光光谱
  • 1篇荧光光谱法
  • 1篇熔剂
  • 1篇钨矿
  • 1篇钨矿石
  • 1篇矿石
  • 1篇光谱
  • 1篇光谱法
  • 1篇光谱法测定
  • 1篇X射线
  • 1篇X射线荧光
  • 1篇X射线荧光光...
  • 1篇X射线荧光光...

机构

  • 1篇天津地质矿产...
  • 1篇中国地质科学...

作者

  • 1篇李小莉
  • 1篇李国会
  • 1篇安树清
  • 1篇杨丽峰

传媒

  • 1篇地质调查与研...

年份

  • 1篇2009
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
X射线荧光光谱法测定钨矿中主次元素被引量：12
2009年
本文中笔者采用熔融玻璃片法制样,使用X射线荧光光谱法测定钨矿石中的钨、磷等主次元素,所用校准标样是用符合国家一级标准的物质由人工配制而成,并用理论α系数内标法及康普顿散射作内标校正基体效应,其分析结果与标准值相符。精密度统计结果显示,主、次量组分方法精密度(RSD,n=10)为0.371%～6.806%。该方法做到了简便、快捷、经济且减少环境污染。
杨丽峰李小莉李国会安树清
关键词：X射线荧光光谱法熔剂钨矿石
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