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国家自然科学基金(50425207)

作品数:2 被引量:1H指数:1
相关作者:朱俊魏贤华张鹰李言荣艾万勇更多>>
相关机构:电子科技大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:一般工业技术理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 1篇单胞
  • 1篇氧化物薄膜
  • 1篇应力
  • 1篇界面应力
  • 1篇PLD
  • 1篇RHEED
  • 1篇12

机构

  • 2篇电子科技大学

作者

  • 2篇李言荣
  • 2篇张鹰
  • 2篇魏贤华
  • 2篇朱俊
  • 1篇张万里
  • 1篇李金隆
  • 1篇吴传贵
  • 1篇梁柱
  • 1篇罗文博
  • 1篇陶伯万
  • 1篇刘兴钊
  • 1篇接文静
  • 1篇艾万勇

传媒

  • 1篇电子科技大学...
  • 1篇功能材料

年份

  • 1篇2007
  • 1篇2006
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
多元氧化物电子薄膜材料的单胞生长模式与界面应力诱导效应的研究
2006年
多元氧化物薄膜,特别是ABO_3钙钛矿结构的薄膜由于有铁电、压电、热释电和超导等特性和在多功能电子器件上的广泛应用而成为电子功能材料研究的热点.该文利用激光分子束外延和磁控溅射等薄膜制备技术,采用反射式高能电子衍射(RHEED)对薄膜的生长进行原位实时的检测分析,确定了在不同的工艺条件下氧化物薄膜的层状、层岛混合和岛状生长模式。优化了薄膜的生长条件,实现了对薄膜生长模式的有效控制,绘制出SrTiO_3、BaTiO_3等薄膜的生长模式图谱。测量计算了薄膜的表面活化能和沉积粒子在表面的有效扩散率,发现氧化物薄膜表面的生长运动单元具有活化能小、迁移时间长等重要特点,采用原子力显微镜(AFM)和掠入射XRD对层状生长薄膜的层厚结构进行了精细测量,提出了氧化物薄膜单胞生长动力学模型,即薄膜生长的主要单元是以B-O八面体为主体的单原胞基团.在此基础上,系统地研究了薄膜生长异质界面应力释放行为和对结构性能的影响,在小失配度、中等失配度和大失配度下体现出的不同生长规律,出现了在临界厚度下的相干外延、应变岛、双晶外延和近重位点阵等现象.最后,通过薄膜和衬底的失配度的选择来调整界面应力的影响,并通过工艺条件来诱导薄膜结构取向,如采用薄膜自外延技术和自缓冲层技术,有效地控制和大幅度改善了铁电薄膜、介电薄膜、超导薄膜和热释电薄膜的微结构和电磁性能。
李言荣朱俊张鹰李金隆魏贤华梁柱张万里吴传贵刘兴钊陶伯万
关键词:氧化物薄膜单胞
PLD方法制备CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜结构研究被引量:1
2007年
采用脉冲激光沉积法(PLD)分别在LaAlO3(100)以及MgO(100)基片上,在不同的沉积温度下,制备具有体心立方类钙钛矿结构的CaCu3Ti4O12(CC-TO)薄膜。在LAO基片上生长的CCTO薄膜,X射线衍射(XRD)分析表明沉积温度在680℃以上可以实现(400)取向生长,740℃薄膜可以实现cubic-on-cubic的方式外延生长。原子力显微镜(AFM)和扫描电子显微镜(SEM)分析分别显示CCTO薄膜的表面平整,界面清晰。后位的反射高能电子衍射(RHEED)观察到CCTO薄膜的电子衍射图谱,为点状。在MgO基片上,由于薄膜与基片较大的晶格失配,通过生长具有(100)和(110)取向的LaNiO3(LNO)缓冲层,诱导后续生长的CCTO薄膜随着温度的提高,由(220)取向生长转变成(220),(400)取向生长。
接文静朱俊魏贤华张鹰罗文博艾万勇李言荣
关键词:PLDRHEED
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