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国家高技术研究发展计划(20041Z1060)

作品数:2 被引量:0H指数:0
相关作者:赵野陆生礼鲍嘉明孙伟锋时龙兴更多>>
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相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇VDMOS
  • 1篇电子密度
  • 1篇电子密度分布
  • 1篇密度分布

机构

  • 2篇东南大学

作者

  • 2篇孙伟锋
  • 2篇鲍嘉明
  • 2篇陆生礼
  • 2篇赵野
  • 1篇时龙兴

传媒

  • 1篇固体电子学研...
  • 1篇中国工程科学

年份

  • 1篇2008
  • 1篇2007
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
基于变化电子流向的一种高压VDMOS静态物理模型
2007年
研究了高压VDMOS内部电子流向的变化,提出了其近似解析表达式,在此基础之上,求得了电子密度分布变化的解析表达式,从而建立了高压VDMOS的一种改进静态物理模型。计算结果表明,由于这一模型是基于更为合理的电子流向变化和电子密度分布变化的解析表达式而建立的,所以与Yeong-seuk Kim等人模型和参考文献[2]的模型相比,在较大的工作电压范围内,其计算精度的提高都是非常显著的。
鲍嘉明时龙兴孙伟锋赵野陆生礼
关键词:电子密度分布
高压VDMOS的一种高精度静态物理模型
2008年
提出了高压VDMOS的一种高精度静态物理模型(HASPM)。在该模型中,基于更为合理的假设而使得用解析方法求得了双扩散沟道区中的电场和电压;通过深入研究VDMOS内部的物理特性,给出了一个关于漂移区电场的微分方程,并在整个漂移区都用解析方法求解了该微分方程,由此求得了漂移区的电压降。计算结果表明,该模型在漏端电流接近饱和处的稳定性有较大提高,具有较高的计算精度,特别是在栅电压与漏电压都比较大的情况下,其计算精度有较大程度的提高。
鲍嘉明孙伟锋赵野陆生礼
共1页<1>
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