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模拟集成电路重点实验室基金(9140C0901091001)
作品数:
1
被引量:2
H指数:1
相关作者:
张靖
杨平
马丹
万辉
张颜林
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2011
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16位逐次逼近A/D转换器熔丝误差修调技术
被引量:2
2011年
提出了一种提高16位逐次逼近(SAR)A/D转换器精度的熔丝误差修调技术。该技术用于提高A/D转换器内部核心模块—16位DAC的精度,从而达到提高整个A/D转换器精度的目的。电路采用标准CMOS工艺流片。测试结果显示,熔丝误差修调后,常温下,电路的INL为2.5 LSB,SNR为88.8 dB,零点误差EZ为1.1 LSB;修调后,A/D转换器有效位数ENOB从12.56位提高到14.46位。
万辉
马丹
张靖
张颜林
杨平
关键词:
A/D转换器
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