国家高技术研究发展计划(2005AA849023)
- 作品数：6 被引量：31H指数：4
- 相关作者：吴建宏李朝明居戬之朱亚一韦晓茹更多>>
- 相关机构：苏州大学苏州市职业大学更多>>
- 发文基金：国家高技术研究发展计划江苏省高校自然科学研究项目江苏省高技术研究计划项目更多>>
- 相关领域：理学机械工程电子电信更多>>
- 用平凸透镜制作大口径光栅的像差分析被引量：4
- 2007年
- 分析使用两个对称的单平凸透镜光路制作光栅并用MATLAB编写光线追迹程序分析了所制作的光栅的衍射波像差的特点,经计算得出在较小焦比D/F情况下其衍射波像差仅与两支光路点光源的调节偏差之差有关与单独的各个偏差无关;初级像差中球差很小几乎可忽略:彗差仅与垂轴调节偏差之差成线性关系;像散仅与轴向调节偏差之差成正比;且当平凸透镜的焦比D/F增大时,各像差项迅速增大。点光源调节偏差一致时的衍射波像差随着系统的焦比D/F增大而迅速增大,并分析了当透镜的焦比D/F一定时,透镜的焦距与所制作的光栅的空间频率对衍射波像差的影响。
- 王诗华吴建宏李朝明陈刚
- 关键词：平凸透镜光栅像差
- 全息曝光条纹锁定系统特性研究被引量：12
- 2008年
- 为了研究全息光栅拍摄过程中曝光对比度与干涉条纹漂移均方根值之间的关系和提高大面积光栅拍摄质量,采用莫尔条纹原理和线阵电荷耦合器件照相机系统组成的条纹锁定系统进行了光栅拍摄实验。对莫尔条纹的漂移量进行了实时采集和分析,发现条纹漂移主要由缓慢漂移和频率为3.1Hz的振动合成。得到了条纹漂移均方根值与光栅曝光对比度之间的数值关系,为预测光栅质量是否合格提供了理论参考。结果表明,要提高光栅拍摄质量,必须保证条纹漂移均方根值小于0.05λ。该条纹锁定系统完全可以满足此要求。
- 钱国林李朝明殷庆琰吴建宏
- 关键词：压电陶瓷
- CCD像元光电转换率不一致性补偿技术被引量：4
- 2007年
- 从理论上分析了CCD像元光电转换率不一致性产生的多种原因。提出了一种简易实用的方法对不一致性进行修正:用照度均匀的光照射CCD,测出每个像元上的光电转换信号大小,计算出像元间的差异,从而得到每个像元的修正系数。对实际CCD的测量值进行这样的修正后使得CCD各像元的光电转换率在表观上达到一致。实验结果表明:通过修正后可以有效地减少像元光电转换率的不一致性,误差均方根提高了一个数量级。
- 居戬之韦晓茹朱亚一吴建宏
- 关键词：光电耦合器件
- CCD像元光电转换率不一致性分析及其修正方法被引量：4
- 2008年
- 从理论上分析了CCD像元光电转换率不一致性产生的多种原因。提出了一种简易实用的方法对不一致性进行修正:用照度均匀的光照射CCD,测出每个像元上的光电转换信号大小,计算出像元间的差异,从而得到每个像元的修正系数。对实际CCD的测量值进行这样的修正后使得CCD各像元的光电转换率在表观上达到一致。实验结果表明:通过修正后可以有效地减少像元光电转换率的不一致性,误差均方根提高了一个数量级。
- 居戬之韦晓茹朱亚一吴建宏
- 关键词：光电转换率
- 单基片多次曝光实现光栅拼接的理论分析被引量：5
- 2008年
- 为减少光栅拼接过程中需要控制的物理量,提出了一种利用单基片多次曝光实现光栅拼接的理论方案。这种拼接方法不但降低了光栅拼接难度,而且还避免了拼接完成后小光栅间的相对移动。对该方案的原理进行了分析,并模拟计算了两块光栅在面内的拼缝和转动对远场光斑特性的影响,获得了无像差情况下光栅拼接的精度。
- 钱国林吴建宏李朝明
- 关键词：惯性约束聚变
- CCD型光学多通道分析仪波长的标定被引量：4
- 2008年
- 研究了最小二乘拟合方法在CCD型光学多通道分析仪波长标定中的应用。标定的光源采用低压汞灯,标定过程分别采用最小二乘法中的2次拟合和线性拟合(1次拟合)。通过测量低压汞灯和低压钠灯光谱,将2次拟合和线性拟合(1次拟合)的结果作比较。结论表明,用2次拟合比线性拟合结果更精确。
- 韦晓茹居戬之朱亚一吴建宏
- 关键词：CCD最小二乘法汞灯
