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富镓Ga_nAs团簇稳定性及缺陷特性的密度泛函理论研究被引量：1: 2014年; 采用基于密度泛函理论（DFT）的第一性原理对富镓中性GanAs（n=1～9）团簇的稳定性及缺陷特性进行了研究.结果表明,随着总原子数的增大,各基态团簇结合能的二阶差分值和团簇能隙差均呈奇偶交替变化规律,总原子数为奇数的团簇比总原子数为偶数的团簇稳定;部分团簇的能隙差小于砷化镓材料的禁带宽度,为砷化镓材料缺陷的研究提供了帮助,其中GaAs团簇缺陷中的VAsVGa缺陷导致能带中的T点处的带隙宽度减小,其最低施主缺陷能级位于导带底以下0.39eV,该值接近于EL6缺陷能级的实验值;团簇各基态结构的振动频率均在THz频段,从而为砷化镓材料的THz波辐射和缺陷的THz波检测提供了依据.; 马德明乔红波李恩玲施卫马优恒; 关键词：密度泛函理论

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国家教育部博士点基金(20116118110014)