福建省自然科学基金(2012J05100)
- 作品数:4 被引量:5H指数:1
- 相关作者:李世玮张旻澍谢安卢智铨更多>>
- 相关机构:厦门理工学院香港科技大学更多>>
- 发文基金:福建省自然科学基金国家自然科学基金厦门市科技计划项目更多>>
- 相关领域:电子电信金属学及工艺更多>>
- 电子材料界面裂纹的新型湿气压力模型被引量:1
- 2013年
- 为了准确评估电子材料界面裂纹张开空间内的湿气压力,提出了一项新的压力计算模型。有别于传统模型,新模型充分考虑了电子材料界面裂纹扩展的物理过程,计算了湿气扩展至裂纹张开空间内的速率,并结合理想气体状态方程,推导了湿气压力与湿气扩散速率、裂纹张开度的关系。从模型的参数研究中可以发现,如果湿气对流比较缓慢或者裂纹张开度比较大,则湿气压力需要经更长的时间达到饱和。该模型的建立为界面裂纹扩展稳定性的研究,提供了湿气压力评估的理论依据和计算数值。
- 张旻澍李世玮卢智铨
- 封装体叠层中堆叠焊球的可靠性研究
- 2014年
- 针对封装体叠层中的堆叠焊球进行了有限元建模和应力分析,评估了TMV堆叠焊球这种新型焊接方式可能带来的可靠性隐患。通过仿真结果发现,堆叠焊球的应力集中比底部焊球更加严重,这说明热疲劳失效更容易发生在塑封胶穿孔中的堆叠焊球上,而原本针对底部焊球的可靠性测试标准则需要做出新的调整。此外,在两种不同的堆叠焊球成型中,雪人式焊球的应力集中比较水桶状焊球更加严重。通过参数研究可以发现,紧缩区域的宽窄程度是造成雪人式焊球应力集中的关键因素。
- 张旻澍宋复斌
- 关键词:可靠性有限元建模应力集中
- 超声波检测在半导体工艺中的应用被引量:4
- 2013年
- 基于具体案例分析,介绍了超声波无损检测技术在半导体工艺中的应用。采用回声法和穿透法检测了封装体件内部塑封界面的裂纹、封装体底部填充胶的孔洞以及硅通孔的成型质量。通过声波成像原理和实例分析的比对结果表明,穿透法适合快速判断封装体是否发生失效,而回声法则适合逐层检测缺陷的位置。对于某些封装体内部深层次的缺陷,需要对比回声法和穿透法的整体成像来完成失效判断。对于某些半导体工艺的质量,需要运用回声法的时间记录模式来完成质量分析,其深度检测的误差可以控制在5%以内。
- 张旻澍谢安李世玮
- 关键词:超声波检测半导体工艺
- 废旧BGA器件二次利用的焊接强度研究
- 2014年
- BGA器件首先经历2 000 h的温循老化以接近废旧状态,再以自重跌落,然后用锡膏印刷的方法完成焊锡球的修复,最后利用Dage4000测试机对不同状态的器件进行焊锡球推拉力测试。结果发现,随着温循老化的时间增加,失效模式逐渐由韧性失效主导转向脆性失效主导。当焊锡球被修复后,失效模式变为混合模式。通过强度对比可以发现,器件的焊接强度随着温循老化时间的增加而降低。当焊锡球被修复后,焊接强度可以恢复到初始状态的80%左右。修复的焊锡球产生的再生金属间化合物可能是造成焊接强度变化的主要原因。
- 张旻澍谢安卢智铨李世玮
- 关键词:金属间化合物