安徽省高校省级自然科学研究项目(KJ2010A280)
- 作品数：10 被引量：26H指数：3
- 相关作者：易茂祥梁华国王伟李扬陈田更多>>
- 相关机构：合肥工业大学江苏省南通商贸高等职业学校安徽经济管理学院更多>>
- 发文基金：安徽省高校省级自然科学研究项目国家自然科学基金国家教育部博士点基金更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信理学更多>>
- 电路老化中考虑路径相关性的关键门识别方法被引量：3
- 2013年
- 65nm及以下工艺,负偏置温度不稳定性(NBTI)是限制电路生命周期,导致电路老化甚至失效的最主要因素。本文提出了基于NBTI的时序分析框架,在确定电路中老化敏感的潜在关键路径集合的基础上,通过考虑路径相关性确定老化敏感的关键门。本方法简单易行,在65nm工艺下对ISCAS基准电路的实验结果表明:在保障电路经10年NBTI效应仍满足相同的时序要求的前提下,本方法较同类方法能更加准确得定位关键门,且关键门的数量较少,从而可减少抗老化设计的成本。
- 李扬梁华国陶志勇李鑫易茂祥徐辉
- 基于优化编码的LFSR重播种测试压缩方案被引量：4
- 2012年
- 大规模高密度集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题.提出了一种先通过编码优化测试集,再使用线性反馈移位寄存器(linear feedback shift register,LFSR)重播种的内建自测试方案.该方案通过自动测试模式生成工具得到被测电路的确定测试集,再压缩为种子集存储在片上ROM中.压缩测试集的过程中,首先以降低测试功耗为目标,用少量确定位编码测试集中的部分测试立方,来增强解码后测试模式相邻位之间的一致性;然后以提高压缩率同时降低LFSR级数为目标,将测试立方编码为确定位含量更少的分段相容码(CBC),最后将以CBC编码的测试立方集压缩为LFSR种子集.实验证明所提出的方案在不影响故障覆盖率的前提下大量降低了测试功耗,并且具有更高的测试数据压缩率.
- 陈田梁华国王伟易茂祥黄正峰
- 关键词：可测性设计低功耗测试数据压缩
- 高性能线性CCD开发平台的研制被引量：1
- 2010年
- 文章研制了基于现场可编程门阵列(FPGA)的线性电荷耦合器件(CCD)开发平台。利用高性能CCD信号处理器调理CCD的输出信号简化电路设计,使用ALTERA的CPU软核处理器(NiosⅡ)作为微控制器实现逻辑控制,并用硬件描述语言编程实现驱动电路的设计,整个平台还配有Camera Link接口、串口、USB及网口与外围设备通讯。利用此平台可以进行实时工业检测,也可以用于科学研究分析数据。
- 梁冰易茂祥颜天信
- 关键词：信号处理器现场可编程门阵列通用串行总线以太网口
- 基于折叠计算的多扫描链BIST方案
- 2013年
- 为了减少测试数据的存储需求并降低测试应用时间,提出一种以折叠计算为理论的多扫描链BIST方案.首先利用输入精简技术在水平方向上压缩测试集,确定相容扫描链,在测试过程中对相容扫描链中的数据进行广播;然后利用折叠计算理论对测试集进行垂直方向上的压缩,使得同一折叠种子生成的相邻测试向量仅有1位不同,且在测试过程中测试向量并行移入多扫描链.在ISCAS标准电路上的实验结果表明,该方案的平均测试数据压缩率为95.07%,平均测试应用时间为之前方案的13.35%.
- 梁华国李扬李鑫易茂祥王伟常郝李松坤
- 关键词：内建自测试多扫描链
- 应用段固定折叠计数器的低功耗测试方案
- 2010年
- 提出了一种低功耗的测试模式生成方法,采用段固定折叠计数器将确定的测试立方集嵌入片上生成的测试模式序列中.该测试模式生成器需要依赖随机访问扫描体系结构,测试时新的测试模式可直接载入扫描单元而不需要经过扫描移位.基于ISCAS-89基准电路的实验表明,该文提出的方案可以有效降低测试数据量、测试应用时间和测试功耗.
- 陈田梁华国张敏生王伟王伟
- 关键词：数据压缩低功耗
- 基于多路复用的老化预测电路设计研究
- 随着超大规模集成电路的飞速发展,集成电路的工艺尺寸不断减小,从而使晶体管更容易老化。本文介绍一种预测老化电路,检测电路中的PMOS管在不工作的情况下关闭,降低了PMOS管的老化速度;主要研究将检测电路应用到多路复用中,通...
- 刘彦斌秦晨飞梁华国黄正峰史冬霞
- 关键词：多路复用电路设计
- 文献传递
- 一种缓解NBTI效应引起电路老化的门替换方法被引量：12
- 2013年
- 45 nm工艺下,负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)效应是限制电路的性能的首要因素。为了缓解NBTI效应引起的电路老化,提出了1个基于门替换方法的设计流程框架和门替换算法。首先利用已有的电路老化分析框架来预测集成电路在其服务生命期内的最大老化,然后以门的权值作为指标来识别关键门,最后采用门替换算法对电路中的部分门进行替换。基于ISCAS85基准电路和45 nm晶体管工艺的试验结果表明,相对于已有的方法,采用文中的门替换方法,使得NBTI效应引起的电路老化程度平均被缓解了9.11%,有效地解决了控制输入向量(input vector control,IVC)方法不适用于大电路问题。
- 梁华国陶志勇李扬
- 基于March C+改进算法的MBIST设计被引量：3
- 2011年
- 针对SRAM内建自测试(MBIST),介绍几种常用的算法,其中详细介绍March C+算法,在深入理解March C+算法的基础上对其提出改进,以此提高MBIST的故障覆盖率。并且利用自顶向下设计方法,Verilog HDl设计语言、设计工具等设计MBIST电路及仿真验证,证明了本设计的正确性和可行性。
- 申志飞梅春雷易茂祥闫涛阳玉才
- 关键词：MBISTIC设计MARCHVERILOGHDL
- 一种低热耗功率的电容降压型直流电源被引量：5
- 2013年
- 电容降压型直流电源以体积小、成本低的特点,广泛应用于各类小功率电子设备中。针对传统电容降压型直流电源电路,通过引入一个可控硅器件,并对电路结构进行适当调整,设计出一种新型的电容降压型直流电源。该电源在输出负载变小甚至空载时,均表现出很低的热耗功率特性,从而有效地解决了传统电容降压型直流电源因热耗功率过大而导致的发热问题。该电源结构简单,输出可调,负载变化适应性强。
- 余成林易茂祥陶金方祥圣
- 关键词：直流电源电容降压
- 基于SystemVerilog的I^2C总线模块验证
- 2011年
- 针对I2C总线模块,介绍了一种基于Systemverilog验证环境的验证IP设计。这种基于面向对象设计的验证架构可以很容易地被重用。文中分析了基于Systemverilog验证环境的结构,并在介绍I2C总线协议的基础上,重点论述了验证环境中事务产生器及驱动器的设计。
- 闫涛申志飞易茂祥梅春雷
- 关键词：SYSTEMVERILOGI2C总线
